提高線陣采樣式光學(xué)遙感器圖像空間分辨率的新方法研究

介紹了提高采樣式光學(xué)遙感器圖像空間分辨率的國(guó)內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀,以任意兩維周期采樣理論為基礎(chǔ),探索了一種通過把線陣探測(cè)器傾斜θ度而非常規(guī)線陣推掃的0°,同時(shí)把推掃方向的采樣間距縮短為P/m,而非常規(guī)線陣推掃的P的新焦平面采樣方法.該方法相對(duì)于常規(guī)線陣推掃采樣,可以增加采樣密度,提高圖像空間分辨率.在原理研究的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了一套實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證系統(tǒng),通過實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)對(duì)該方法進(jìn)行了物理及其可行性驗(yàn)證.試驗(yàn)結(jié)果表明:如果探測(cè)器陣列旋轉(zhuǎn)45°并且推掃方向采樣間距減半,相對(duì)常規(guī)線陣推掃采樣,圖像的空間分辨率可以提高1.64倍左右.相對(duì)于高模式采樣技術(shù)和超模式采樣技術(shù),該方法避開了兩排錯(cuò)位排列探測(cè)器的難題,因此工程實(shí)現(xiàn)上要簡(jiǎn)單.

作 者： 周峰 王懷義 馬文坡 劉兆軍 ZHOU Feng WANG Huai-yi MA Wen-po LIU Zhao-jun   作者單位： 北京空間機(jī)電研究所,北京,100076  刊 名： 宇航學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF ASTRONAUTICS  年，卷(期)： 2006 27(2)  分類號(hào)： V474.2  關(guān)鍵詞： 采樣式光學(xué)遙感器   單線陣探測(cè)器   高模式采樣   超模式采樣   傾斜采樣   空間分辨率  

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