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V2O5復(fù)合薄膜材料的電子結(jié)構(gòu)研究
采用自洽場離散變分Xα方法對純V2O5及V2O5復(fù)合薄膜不同狀態(tài)的O1s及V2p軌道電子結(jié)合能和鍵強(qiáng)度等進(jìn)行了研究. 結(jié)果表明, V2O5結(jié)構(gòu)中存在4種狀態(tài)的氧和3種狀態(tài)的釩, 聚合物(PEO)或聚合物(PEO)-Li+嵌入V2O5結(jié)構(gòu)主要存在于層間的位置, 與雙鍵氧產(chǎn)生弱的鍵合作用, 導(dǎo)致雙鍵氧與五價釩的含量降低, 三鍵氧與三價、四價釩的含量增加;純V2O5層間嵌入的Li+與周圍氧的共價鍵與靜電力都非常明顯, V2O5層間引入PEO后再嵌入Li+, Li+與周圍氧的共價鍵與靜電力都變的非常微弱, 說明PEO嵌入V2O5層間使Li+具有很好的注入/脫出可逆性.
作 者: 周靜 陳文 徐慶 閔新民 作者單位: 周靜(武漢理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,武漢,430070)陳文,徐慶(武漢理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,武漢,430070;武漢理工大學(xué)材料復(fù)合新技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,武漢,430070)
閔新民(武漢理工大學(xué)材料復(fù)合新技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,武漢,430070)
刊 名: 硅酸鹽學(xué)報 ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF THE CHINESE CERAMIC SOCIETY 年,卷(期): 2002 30(2) 分類號: O641 關(guān)鍵詞: 五氧化二釩 復(fù)合薄膜 結(jié)合能 鍵強(qiáng)度 電子結(jié)構(gòu)【V2O5復(fù)合薄膜材料的電子結(jié)構(gòu)研究】相關(guān)文章:
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