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冬小麥條銹病嚴重度高光譜遙感反演模型研究
通過人工田間誘發(fā)不同等級小麥條銹病,在不同生育期測定染病冬小麥冠層光譜及其病情指數(shù)(DI).把冠層光譜一階微分數(shù)據(jù)與相應的DI進行相關分析,采用單變量線性和非線性回歸技術,建立小麥DI的估測模型,并利用不同品種小麥樣本對模型精度進行可靠性檢驗.結果表明:DI與一階微分在432~582 nm、637~701 nm以及715~765 nm區(qū)域內有極顯著相關性,以紅邊峰值區(qū)(725~735 nm)一階微分總和與綠邊峰值區(qū)(521~530 nm)一階微分總和的比值為變量的線性模型估測DI精度最高,且其對小麥品種相對不敏感.上述研究結果對利用高光譜遙感監(jiān)測農作物病害及其嚴重程度都具有實際應用價值.
黃文江,HUANG Wen-jiang(國家農業(yè)信息化工程技術研究中心,北京,100089)
刊 名: 南京農業(yè)大學學報 ISTIC PKU 英文刊名: JOURNAL OF NANJING AGRICULTURAL UNIVERSITY 年,卷(期): 2007 30(3) 分類號: O433.4 S127 關鍵詞: 高光譜遙感 冬小麥 條銹病 病情指數(shù) 反演模型 可靠性分析【冬小麥條銹病嚴重度高光譜遙感反演模型研究】相關文章:
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