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多種材料軟X光平面鏡反射率標定
利用北京同步輻射裝置(BSRF)-3W1B束線及反射率計靶室,在束流強度40~120 mA、貯存環(huán)電子能量2 GeV專用光運行模式下,做了不同材料掠入射平面鏡反射率標定實驗.標定過程用高靈敏度無死層的硅光二極管代替X射線二極管(XRD)作探測器,使輸出信號提高2~3個量級,可標定能區(qū)從150~270 eV拓展為50~1 500 eV能區(qū),對C,Si和Ni材料平面鏡給出完整的反射率標定曲線,最終把實驗數(shù)據(jù)與理論計算比對并分析.
作 者: 孫可煦 崔延莉 易榮清 江少恩 黃天恒 楊家敏 丁永坤 崔明啟 朱佩平 趙屹東 黎剛 張景和 作者單位: 孫可煦,崔延莉,易榮清,江少恩,黃天恒,楊家敏,丁永坤(中國工程物理研究院,激光聚變研究中心高溫高密度等離子體物理國家重點實驗室,四川,綿陽,621900)崔明啟,朱佩平,趙屹東,黎剛(中國科學院,高能物理研究所,同步輻射實驗室,北京,100039)
張景和(哈爾濱工業(yè)大學,精密工程研究所,黑龍江,哈爾濱,150001)
刊 名: 光學精密工程 ISTIC EI PKU 英文刊名: OPTICS AND PRECISION ENGINEERING 年,卷(期): 2003 11(4) 分類號: O435.1 關鍵詞: 同步輻射 平面鏡 反射率 標定【多種材料軟X光平面鏡反射率標定】相關文章:
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