超細地質標準物質及其應用

74μm(200目)樣品粒度是當今地質分析的一項重要技術基礎.文中從實踐角度指出了現(xiàn)代地質分析技術對樣品粒度的新需求,并由地質分析樣品粒度演化的歷史說明了隨著分析技術的不斷進步,分析樣品粒度階梯性減小的趨勢.從而認為應不失時機地研制超細粒度的地質標準物質,為研究超細樣品條件下的分析技術奠定物質基礎、提供評價依據(jù).為此采用超細粉碎技術制備了一套具有超細粒度的海洋沉積物標準物質系列;并給出了以超細樣品粉末直接壓片制樣,用X射線熒光法精確測定了海山磷塊巖中包括C,F,Cl,Br和Ⅰ在內的主、次、痕量共32個元素的應用實例.最后討論了超細標準物質制備及應用可能對地質分析技術未來發(fā)展造成的影響--導致新的地質分析技術體系的產生.

作 者： 王曉紅 高玉淑 王毅民   作者單位： 國家地質實驗測試中心,北京,100037  刊 名： 自然科學進展  ISTIC PKU 英文刊名： PROGRESS IN NATURAL SCIENCE  年，卷(期)： 2006 16(3)  分類號： P5  關鍵詞： 地質標準物質   超細粉碎   粒度分析   X射線熒光   "綠色"分析技術  

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