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近紅外光譜技術(shù)定量測(cè)定基質(zhì)參數(shù)研究
摘要：無(wú)土栽培具有省地、省時(shí)等諸多優(yōu)點(diǎn),是農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中發(fā)展最快的技術(shù)之一,基質(zhì)選擇是無(wú)土栽培成功與否的關(guān)鍵之一.因此,對(duì)基質(zhì)參數(shù)的快速測(cè)定具有重要意義.文章采用近紅外光譜技術(shù)定量測(cè)定基質(zhì)中含水率、電導(dǎo)率和pH值,利用基線校正和微分方法對(duì)光譜進(jìn)行預(yù)處理,在不同的波段范圍建立不同的偏最小二乘(partial least squares,PLS)回歸模型.研究發(fā)現(xiàn):光譜經(jīng)基線校正后,漂移現(xiàn)象得到明顯改善；近紅外光譜可用于基質(zhì)中電導(dǎo)率的定量檢測(cè),用于預(yù)測(cè)基質(zhì)電導(dǎo)率的最優(yōu)PLS模型的相關(guān)系數(shù)r、交互驗(yàn)證均方根誤差(root mean square error of cross-validation,RMSECV)、相對(duì)分析誤差(relative percent deviation,RPD)和檢驗(yàn)偏差(Bias)值分別是0.923 6,634 μs·cm-1,3.11和19.8 μs·cm-1,使用的最佳回歸因子是7,建模的最優(yōu)波段范圍是4 246.7～7 502.2crn-1.近紅外光譜技術(shù)對(duì)于含水率的預(yù)測(cè)也是可行的,但模型精度有待進(jìn)一步提高,而近紅外光譜無(wú)法預(yù)測(cè)基質(zhì)中的pH值. 作者： 俞永華 Author： YU Yong-hua 作者單位： 浙江大學(xué)生物系統(tǒng)工程與食品科學(xué)學(xué)院,浙江杭州,310058 期 刊： 光譜學(xué)與光譜分析 ISTICEISCIPKU Journal： Spectroscopy and Spectral Analysis 年，卷(期)： 2011, 31(11) 分類號(hào)： S37 TP216 關(guān)鍵詞： 近紅外光譜 基質(zhì) 含水率 電導(dǎo)率 pH 機(jī)標(biāo)分類號(hào)： S68 S31 機(jī)標(biāo)關(guān)鍵詞： 近紅外光譜技術(shù) 定量測(cè)定 基質(zhì)選擇 參數(shù)研究 Determination of 電導(dǎo)率 mean square error 無(wú)土栽培 基線校正 least squares 預(yù)測(cè) 模型精度 含水率 偏最小二乘 均方根誤差 相關(guān)系數(shù) 微分方法 漂移現(xiàn)象 農(nóng)業(yè)生產(chǎn) 快速測(cè)定 基金項(xiàng)目： 國(guó)家(863計(jì)劃)重點(diǎn)課題項(xiàng)目，農(nóng)業(yè)部公益項(xiàng)目 近紅外光譜技術(shù)定量測(cè)定基質(zhì)參數(shù)研究[期刊論文] 光譜學(xué)與光譜分析 --2011, 31(11)俞永華無(wú)土栽培具有省地、省時(shí)等諸多優(yōu)點(diǎn),是農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中發(fā)展最快的技術(shù)之一,基質(zhì)選擇是無(wú)土栽培成功與否的關(guān)鍵之一.因此,對(duì)基質(zhì)參數(shù)的快速測(cè)定具有重要意義.文章采用近紅外光譜技術(shù)定量測(cè)定基質(zhì)中含水率、電導(dǎo)率和pH值,利用基線...【近紅外光譜技術(shù)定量測(cè)定基質(zhì)參數(shù)研究】相關(guān)文章：
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