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伏安法測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理
對(duì)伏安法測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理進(jìn)行了系統(tǒng)研究,分析了采用非等精度數(shù)據(jù)處理方法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的依據(jù),介紹了使用該方法的基本步驟,并舉例說明.
作 者: 姚展 任惠娟 YAO Zhan REN Hui-juan 作者單位: 成陽(yáng)師范學(xué)院物理系,陜西,咸陽(yáng),712000 刊 名: 武漢工程大學(xué)學(xué)報(bào) ISTIC 英文刊名: JOURNAL OF WUHAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY 年,卷(期): 2009 31(9) 分類號(hào): O4-34 關(guān)鍵詞: 伏安法 不確定度 非等精度測(cè)量【伏安法測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)處理】相關(guān)文章:
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