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通過(guò)SERS手段高靈敏度檢測(cè)純化的碳納米管的Raman-D峰
本文采用"三明治"(濾膜/ 碳納米管/ 銀膠)SERS體系,對(duì)提純后的碳納米管樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè).通過(guò)與其拉曼散射光譜進(jìn)行比較,發(fā)現(xiàn)較平的缺陷峰D峰在SERS光譜中得到明顯地增強(qiáng),反應(yīng)出多種碳雜質(zhì)的信息.該方法使用樣品量很少(5 μg),光譜信息比普通拉曼要豐富很多.該方法可用于高靈敏度的檢測(cè)純化后的樣品的缺陷.
作 者: 李娜 方炎 LI Na FANG Yan 作者單位: 北京市納米光電子重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室首都師范大學(xué),北京,100037 刊 名: 光散射學(xué)報(bào) ISTIC PKU 英文刊名: CHINESE JOURNAL OF LIGHT SCATTERING 年,卷(期): 2008 20(3) 分類(lèi)號(hào): O657.37 關(guān)鍵詞: 碳納米管 表面增強(qiáng)拉曼散射 Raman-D峰【通過(guò)SERS手段高靈敏度檢測(cè)純化的碳納米管的Raman-D峰】相關(guān)文章:
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