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顆粒物CEMS的取樣問題和基本分析技術
介紹了在實際應用中的顆粒物CEMS的取樣問題和基本分析技術,著重強調(diào)了顆粒物分層對取樣點位的影響以及在基于光學技術的顆粒物CEMS運行中,保持顆粒物特性和尺寸分布相對穩(wěn)定的重要性.
作 者： 楊凱 滕恩江 作者單位： 中國環(huán)境監(jiān)測總站,北京,100029 刊 名： 中國環(huán)境監(jiān)測 ISTIC PKU 英文刊名： ENVIRONMENTAL MONITORING IN CHINA 年，卷(期)： 2005 21(3) 分類號： X830.1 關鍵詞： CEMS 取樣 分析 監(jiān)測【顆粒物CEMS的取樣問題和基本分析技術】相關文章：
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